供应粒径分析仪/粒度分析仪（美国PSS公司）  

粒径分析仪/粒度分析仪（美国PSS公司）

    
技术参数

NicompTM 380 亚微粒径分析仪- 动态光散射(DLS)技术 
NicompTM 380/ZLS 电位/粒径测定仪-电泳光散射(ELS)技术  
测定粒径范围: 0.003-3um　动态粒径范围广： 1 nm- 5um绝对测量 -无需校正高分辨率的 Nicomp 多组分的样品分析对于浓度并非十分敏感
测量迅速
高度地可再现性——极佳的质量控制工高分辨率的PCS ensemble 技术.可以根据测定数量的需要调节基线的特征。
对于含有数百万微粒的典型样本，可以提供全面的散射信号
简单的样本标准化分析 – 可选择的有效性操作精确测量的结果——并非由微粒的成分决定的自动稀释系统提供了封闭的环境已确保稀释液的清洁。
Vesicle Weighting——由于需要测定空心的微粒(例如脂质体)，因此 Vesicle Weighting 为光散射提供了修正，从而建立标准的特征。

AccuSizerTM 780 光学粒径检测仪单粒子光学传感技术 (SPOS)；测定粒径范围:  0.5~400 mm (可得更大范围)　
单次进样指数稀释
灵敏度高: 单粒子检测
真实的颗粒数粒径分布图--粒子数 vs.粒径 
E+LS传感器获得更大的的动态粒径范围(» 0.5-400 um)
快速, 重现性好(> 100K 粒子, 1-2 min)
理想的slurry在线粒径检测
得到真实的粒径“尾部”分布图 (35 mm), 而不象“ ensemble ”技术(如激光衍射, 动态光散射, 超声衰减, 光学浊度) 得到的仅是近似的粒径分布图